磁粉靈敏度試片

產品詳情

A型靈敏度試片最先由日本無損檢測學會提出,以后為多個國家使用,主要用于零部件的射線無損檢測設備磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質的工作,可以正確地選擇磁化規范,并可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者必備的調試工具。

特 點:
試片用于磁粉顯示,圖象直觀,使用簡便。對各類零件所有方向的磁場,尤其檢查形狀復雜的零件時,表現其獨特的優點。

性能規格:
A型標準試片分為A1、A2;A1為退火材料制成,A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片,與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應。本試片為A1 (15/50μ)標準試片。相當于A1型試片中2# (30/100μ)標準靈敏度試片,規格為(8-9)D;適用于中靈敏度探傷,其中括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為(微米),D為工件直徑。

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